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泰勒霍普森粗糙度儀 SURTRONIC DUO 信息
點擊次數:89 更新時間:2025-10-16

泰勒霍普森粗糙度儀 SURTRONIC DUO 的測量原理是基于精密的機械傳感與數字化數據處理。具體如下:

機械傳感:儀器通過耐磨的金剛石測針和精密機動驅動裝置,帶動測針沿被測表面水平等速滑行。當測針劃過表面波峰和波谷時,會產生垂直位移,高靈敏度壓電傳感器捕捉該位移,并通過壓電效應將其轉化為電信號。

數字化處理:產生的電信號經模數轉換等處理后變為數字信號,傳輸至微處理器。微處理器依據國際標準制定的算法(如 ISO 4287)對數字信號進行分析計算,得出表面粗糙度參數,最終在液晶顯示器上顯示測量結果,也可通過打印機輸出或與 PC 機通訊傳輸數據。

其常用的測量參數包括幅值參數、間距參數和混合參數,具體介紹如下:

幅值參數:用于描述表面偏差的垂直特征。如 Ra 是算術平均值偏差,反映輪廓的平均高度變化;Rz 為平均峰谷高度,體現了一定測量長度內峰谷高度的平均值;Rt 是輪廓總高度,指輪廓上高點到低點的距離。

間距參數:主要測量表面偏差的水平特征。其中 RPc 表示峰數量,可反映表面峰的密集程度;RSm 是輪廓元素的平均寬度,能體現輪廓上各元素在水平方向的平均寬度情況。

混合參數:是間距和幅值參數的組合。例如 Rmr 為材料支撐比,用于評估表面在不同高度下的材料分布情況,對分析零件的耐磨性等性能有重要作用;Rda - R Delta a(算術平均斜率)則綜合了輪廓的斜率信息,可輔助判斷表面的紋理特征等。


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